VK-X3000系列形状测量激光显微系统

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VK-X3000系列形状测量激光显微系统
一台即可测量纳米/微米/毫米三重扫描方式
一台设备可使用激光共聚焦、聚焦变化、白光干涉等三种不同的扫描原理。根据样品工件的材料、形状和测量范围选择适合的扫描方式，进行高精度测量。

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