产品特点

同轴电子显微镜TO-3M50，专为精密工业检测设计，尤其擅长处理像芯片、晶圆这类拥有光滑、高反射表面的样品。

同轴光照明优势：其LED同轴折射光源能有效消除光滑表面（如芯片、晶圆）的反光，让划痕、凹陷等表面缺陷清晰显现，这对于精密制造的质量控制至关重要。

景深融合功能：当样品表面有一定起伏，导致无法一次对焦看清全部细节时，景深融合功能可以通过拍摄多张不同焦点的照片并合成，得到一张整体清晰的图像，极大提升了观察效率。

连续变倍与高清成像：45X-400X的连续变倍范围允许您无缝地从观察整体布局切换到分析微观细节。配合最高1800万像素的索尼传感器，能捕获足够精细的图像，满足分析和存档的要求。

技术参数