投影光学计：相对测量法
投影立式光学计在测量时，主要采用的是相对测量法，而非绝对测量法。这一结论可以从以下几个方面进行理解：
一、测量原理
(1)投影立式光学计是一种基于光学原理的测量工具，它通过光源、透镜、投影面和感光元件构成的光学系统，将待测零件的轮廓影射在平面上进行精确测量。这种测量方式依赖于与被测对象相比较的标准信号或参数，因此属于相对测量的范畴。
二、测量特点
(2)相对测量法一般使用专用量具，适合大批量生产、测量，且测量操作简单、准确。但是，需经常校对量具以确保测量结果的准确性。
(3)绝对测量法则关注参数绝对的值的测量方法，而相对测量法主要关注的是步进时的增量。在高精度的测量中，虽然绝对测量法步骤繁琐且易受环境影响，但其测量结果更为直接和准确。然而，投影立式光学计的设计初衷和实际应用场景更多地倾向于快速、准确的相对测量。
三、应用场景
(4)投影立式光学计是工厂计量室、车间检定站或制造量具、工具与精密零件车间常用的精密仪器之一。它常被用于测量零件外形的微差尺寸，如圆柱形、球形等工件的直径或样板工件的厚度等。在这些应用场景中，相对测量法已经足够满足精度要求，并且具有更高的效率和可操作性。
四、结论
综上所述，投影立式光学计在测量时采用的是相对测量法，而非绝对测量法。这与其设计原理、测量特点以及应用场景密切相关。在实际应用中，用户应根据具体需求和测量条件选择合适的测量方法和工具。
五、补充说明
虽然投影立式光学计不能直接用于绝对测量，但在某些情况下，可以通过与其他测量设备或方法相结合，实现间接的绝对测量。例如，可以使用标准量块或高精度测量设备对投影立式光学计进行校准和验证，从而确保其测量结果的准确性和可靠性。
