比长仪和测长仪都是用于长度测量的精密仪器，但它们的设计原理、测量方式和应用场景有显著区别。以下是两者的主要对比：
1. 比长仪（Comparator）
核心原理
通过光学放大或机械放大，将被测物体与标准量具（如标准刻度尺、光栅尺等）进行对比测量，属于相对测量。
主要特点
- 测量方式：需要已知长度的标准件（如量块、标准尺）作为基准，通过比较得出被测物体的偏差值。
- 放大系统：通常采用光学显微镜、投影仪或激光干涉系统放大被测物体影像，便于高精度比对。
- 典型精度：可达0.1～1微米（取决于光学系统和环境控制）。
- 应用场景：
- 精密机械零件的尺寸比对（如螺纹、齿轮的轮廓测量）；
- 光学元件（透镜、光栅）的刻线间距检测；
- 校准其他量具（如千分尺、卡尺）。
常见类型
- 光学比长仪（如阿贝比长仪，利用显微镜和精密导轨）；
- 投影式比长仪（将被测轮廓放大投影到屏幕比对）；
- 激光比长仪（通过激光干涉仪实现纳米级测量）。
2. 测长仪（Length Measuring Machine）
核心原理
通过直接测量获取物体的绝对长度值，通常基于机械位移传感器或光栅/激光干涉仪，属于绝对测量。
主要特点
- 测量方式：无需标准件对比，直接输出被测物体的实际长度（如通过探头接触或光学扫描）。
- 传感器类型：常用光栅尺、电感式传感器、激光干涉仪等。
- 典型精度：可达0.01～0.1微米（高精度型号如激光干涉测长仪）。
- 应用场景：
- 工件尺寸的直接测量（如轴类零件的直径、长度）；
- 高精度实验室计量（如量块校准）；
- 自动化生产线上的在线检测。
常见类型
- 接触式测长仪（如三坐标测量机的测头系统）；
- 非接触式测长仪（如激光测长仪、白光干涉仪）；
- 万能测长仪（结合机械和光学系统，可测内外尺寸）。
关键区别总结
对比项 | 比长仪 | 测长仪 |
测量原理 | 相对测量（需标准件比对） | 绝对测量（直接读数） |
依赖基准 | 必须使用标准量具 | 无需标准件 |
典型精度 | 0.1～1微米 | 0.01～0.1微米（更高） |
操作复杂度 | 需手动对齐比对 | 自动化程度更高 |
主要用途 | 校准、轮廓比对 | 直接尺寸测量 |
选择建议
- 若需快速比对已知标准件（如批量检测零件一致性），选比长仪；
- 若需直接获取绝对值（如未知尺寸的高精度测量），选测长仪；
- 现代高精度仪器（如激光干涉测长仪）可能融合两者功能。
例如：
- 校准千分尺：用比长仪对比标准量块；
- 测量轴承内径：用测长仪直接输出数值。
